JEDEC发布首份硅光子学可靠性标准JESD264
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JEDEC发布首份硅光子学可靠性标准JESD264
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2026年10月,JEDEC固态技术协会发布首份全行业硅光子学(SiPh)器件认证和可靠性标准JESD264。据IT之家报道,JEDEC美国当地时间本月1日发布了JESD264硅光子学器件认证和可靠性要求,这是首份全行业级别的硅光器件统一认证和可靠性实践规范。该标准为硅光芯片和集成芯片组提供组件级鉴定指南,建立测试与制造控制的通用基准,明确代工厂、外包封测与系统开发商之间的可靠性责任,并支持激光器、调制器、光电二极管和无源光学结构的集成。报道称,该标准有助于降低部署风险,推动硅光技术在高速数据中心、电信和AI网络中的应用。
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最新进展10月5日 10:34
JEDEC 发布首份全行业硅光子学(SiPh)可靠性标准 JESD264报道时间线
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10月5日
- IT之家JEDEC 发布首份全行业硅光子学(SiPh)可靠性标准 JESD264
JEDEC 固态技术协会发布首份全行业硅光子学(SiPh)器件认证和可靠性标准 JESD264,为硅光芯片和集成芯片组提供组件级鉴定指南。该标准建立测试与制造控制的通用基准,明确代工厂、外包封测与系统开发商之间的可靠性责任,支持激光器、调制器、光电二极管和无源光学结构的集成,有助于降低部署风险并推动硅光技术在高速数据中心、电信和 AI 网络中的应用。
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